SMA余弦校正器
φ4净口径
产品描述：
余弦校正器设计用于将光耦合到SMA接头的光纤中，或从SMA接头的光纤耦合出。校正器带有一个散射片，位于公差很小的外壳中，外壳是由经过阳极氧化发黑处理的铝制造的。
余弦校正器中的散射片使得可在与散射表面最多呈180°角的方向上收集光。这使得在装置中固有的采样表面几何所导致的问题降到最少。因而，这些散射片非常适用于光谱测量，或用作辐照探针。
技术指标：
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项目 |
指标 |
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| 型号 |
SCC1 |
SCC2 |
| 散射片厚度(mm) | 0.5 | |
| 透过率@660nm(%) | 0.2 | |
| 净口径 | φ4 | |
| 输入孔径外壳(mm） | 光滑φ7.5 | SM05螺纹 |
| 输出端口 | SMA连接器 | |
| 材料 | 阳极氧化铝 | |
典型曲线
| SMA余弦校正器技术规格书-MY.pdf | 2026-01-31 |
24小时服务热线 133-7181-1099
